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无损颗粒检测系统
参考价:¥1800

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更新时间:2023-07-07  |  阅读:502

详情介绍

FLEX P台式粒子成像系统,ZebraSCI Flex P无损颗粒检测系统详细介绍:


FLEX P台式粒子成像系统,ZebraSCI Flex P无损颗粒检测系统是由美国ZebraSCI研究开发并生产的。
经过验证的Flex P可无损地解决容器中的颗粒数量和尺寸分布。该系统对计数和跟踪溶液中的亚可见和可见粒子很敏感。跟踪算法很重要,因此该机器减少了重复计数,并且可以对溶液中的颗粒进行表征,而其他视觉系统却被容器上的颗粒和表面缺陷所迷惑。跟踪算法也很重要,因此气泡不会被视为颗粒。Flex P系统旨在适应各种常见的主容器尺寸而无需更换零件。Flex P系统核心的光学和自动化与我们的高速卫星系统相同,但设计紧凑且非常适合实验室环境。
 

FLEX P台式粒子成像系统,ZebraSCI Flex P<strong>无损颗粒检测系统</strong>
 
FLEX P台式粒子成像系统规格:
110-240VAC,单相,50 / 60Hz
额定功率:400W()
配方开发
机器尺寸:60cm X 30cm X 53cm
气压:90 psi
符合CE要求

 
FLEX P台式粒子成像系统应用与优点:
在存在各种药物产品的情况下观察并计数可见/可见的颗粒
表征溶液中的分布/数量颗粒
配方开发
稳定性研究
集装箱资质

FLEX P台式粒子成像系统,ZebraSCI Flex P<strong>无损颗粒检测系统</strong>


   
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